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VDI-Fachausschuss 101: Zerstörungsfreie Prüfung

© FRM II/ TUM

Der VDI-Fachausschuss Anwendungsnahe Zerstörungsfreie Werkstoff- und Bauteilprüfung (ZfP) treibt die anwendungsorientierte Weiterentwicklung der verschiedensten ZfP-Methoden voran. Mit dem Ziel der Erarbeitung von konkreten Lösungswegen, Anwendungsrichtlinien und Standards sucht der Fachausschuss gezielt die Kooperation mit Industriefirmen, Forschungseinrichtungen und anderen etablierten Fachverbänden.

Dazu zählt unter anderem die Bereitstellung von Kommunikationsplattformen wie Konferenzen, Workshops und Expertenforen, auf denen

  • aktuelle Fragestellungen diskutiert werden
  • ZfP-Methoden, deren Potenziale, Grenzen und Entwicklungstendenzen vorgestellt werden
  • anwendungsspezifische Fragestellungen an den Fachausschuss adressiert werden können
  • potenzielle Anwender unterstützt werden
  • das Netzwerk gezielt erweitert wird.

Vorsitz: Thomas Ullmann
Stellvertretung: Dr. Frank Herold

Mitglieder

Dr. Stefan Beckerstefan.becker@becker-photonik.deBecker Photonik (Porta Westfalica)
Prof. Dr. Heinz-Günther Brokmeierheinz-guenter.brokmeier@tu-clausthal.deTU Clausthal
Dr. Andreas Fentandreas.fent@bmw.deBMW (Landshut)
Dr. habil. Ralph Gillesralph.gilles@frm2.tum.deMLZ / TUM (München)
Dr. Michael Hofmannmichael.hofmann@frm2.tum.deMLZ / TUM (München)
Dr. Frank Heroldf.herold@visiconsult.deVisiConsult (Stockelsdorf bei Lübeck)
Dr. Jan Manuel Hintersteinmanuel.hinterstein@iwm.fraunhofer.deFraunhofer IWM (Freiburg i.Br.)
Dr. Joachim Jonuscheitjoachim.jonuscheit@itwm.fraunhofer.deFraunhofer ITWM (Kaiserslautern)
Prof. Dr. Martin LandesbergerMartin.Landesberger@thi.deTH Ingolstadt (Ingolstadt)
Dr. Henning Markötterhenning.markoetter@bam.deBAM (Berlin)
Prof. Dr. Gerd Marowskygmarows@gwdg.deInstitut für Nanophotonik (Göttingen)
Dr. Jürgen Neuhausjuergen.neuhaus@frm2.tum.deMLZ / TUM (München)
Dr. Jens Pragerjens.prager@bam.deBAM (Berlin)
Dr. Holger Rothholger.roth@bakerhughes.comWaygate Technologies - Baker Hughes (Stuttgart)
Ralf Schallertralf.schallert@ikts.fraunhofer.deFraunhofer IKTS (Berlin)
Prof. Dr. Rainer SchneiderRainer.Schneider@bht-berlin.deBerliner Hochschule für Technik (Berlin)
Dr. Michael Schulzmichael.schulz@frm2.tum.deMLZ / TUM (München)
Dr. Marc Thirymarc.thiry@hereon.deHereon @DESY (Hamburg)
Thomas UllmannThomas.Ullmann@dlr.deDLR (Stuttgart)

 

Treffen des VDI-Fachausschuss 101 © FRM II / TUM

Das alle zwei Jahre stattfindende TUM-Expertenforum zur zerstörungsfreien Prüfung von Werkstoffen und Bauteilen bietet die Möglichkeit, Kontakte zu Anwendern und Entwicklern verschiedenster ZfP-Verfahren und Auswertemethoden zu knüpfen sowie den Einsatz der Mess- und Prüfverfahren unter den Aspekten aktueller Themen und Fragestellungen im Bereich der Forschung, Fertigung und der industriellen Produktentwicklung kennenzulernen.

Der Fachausschuss kann zur Lösung messtechnischer Fragestellungen bei Bedarf auch die Einbindung von Forschungseinrichtungen mit ihren speziellen zerstörungsfreien Prüf- und Auswerteverfahren initiieren. Die zerstörungsfreie Prüfung ermöglicht es, verborgene Fehler in Materialien, Bauteilen und Konstruktionen so frühzeitig aufzuspüren, dass ein unvorhergesehenes Versagen im Einsatz vermieden werden kann. ZfP-Verfahren helfen, Unfälle und Verletzungen zu verhindern sowie Sach- und Umweltschäden zu vermeiden. Durch seine Mitglieder umfasst die Expertise des Fachausschusses eine Vielzahl verschiedener ZfP-Methoden von z.B. akustisch/optischen Prüfverfahren bis hin zu besonderen Durchstrahlungsmethoden, basierend auf Neutronen- und Synchrotronquellen, über die volle Bandbreite der Ingenieurwerkstoffe.

Messmethoden

© Waygate Technologies

Bildgebende Verfahren

Neutronenradiographie und Computertomographie (CT), Röntgenradiographie, Röntgen-Computertomographie (CT), Synchrotron-Röntgen-Refraktion, Synchrotron-Röntgen-Computertomographie (CT), Thermographie, Ultraschallprüfung, Wirbelstromprüfung

© Fraunhofer IKTS

Optische Messverfahren

Millimeterwellenprüfung mit FMCW-Radar, Terahertz-Messtechnik, Röntgen-Nahkanten-Absorptions-Spektroskopie (Laborsystem), Raman-Techniken, Optische Kohärenztomographie - OCT, Hyperspektrale Bildgebung HSI (engl. Hyperspectral Imaging)

© FRM II/ TUM

Eigenspannungs-/Texturanalyse

Eigenspannungsbestimmung mit Neutronen, Eigenspannungsbestimmung mit mobilem Diffraktometer (XRD), Eigenspannungsbestimmung mittels synchrotronbasierter Röntgendiffraktometrie, Texturanalyse mit Neutronen

© FRM II/ TUM

Analytik

Prompte Gamma Aktivierungsanalyse, Struktur- und Phasenanalyse mit XRD, Synchrotron und Neutronen, Neutronen-Kleinwinkelstreuung

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